更新時間:2024-06-25
日本JEOL鎢絲燈用于JXA-iHP200F場發(fā)射 電子探針 顯微分析儀 (FE-EPMA)
日本JEOL鎢絲燈MA113008
日本JEOL鎢絲燈MA113008
用于電子探針 JXA-iHP200F 機器
核心參數
儀器種類:落地式/傳統(tǒng)大型
電子槍種類:熱場發(fā)射
產地類別:進口
二次電子圖象分辨率:2.5nm
放大倍數:40-300,000
加速電壓:1-30kV
背散射電子圖像分辨率:高襯度
最大樣品尺寸:100mmX100mmX50mmH
樣品室可拓展接口數量:多個
樣品臺:五周馬達驅動
檢測器系統(tǒng):背散射探頭、波譜儀、能譜儀
電子探針顯微分析儀越來越多地被用作鋼鐵、汽車、電子元件和電池材料等各種工業(yè)領域的研發(fā)和質量保證工具。 它還廣泛應用于地球和行星科學以及材料科學,
并有望為各種前沿研究做出貢獻,例如礦物和材料研究等資源和能源研究,以及各種新材料的材料研究。 相應地,在保持較高的局部痕量元素分析性能的同時,
要求每個人都“輕松"和“快速"地使用儀器。
JXA-iHP200F 和 JXA-iSP100 是集成的 EPMA,經過進一步改進,可滿足這些需求,并使從觀察到分析的操作更加高效。
* EPMA是Electron Probe Microanalyzer的縮寫。
電子探針是電子光學產品中*進行準確定量分析的儀器,利用波譜的高分辨率和能譜的高速度,可以很快將材料中的成份進行精準分析。